問(wèn)答題工藝檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向?
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濕氧氧化采用的氧化水溫是()。
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常壓的硅外延方法有()。
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封裝工藝中,銀漿固化的溫度為()。
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碳納米管場(chǎng)效應(yīng)晶體管是未來(lái)晶體管發(fā)展趨勢(shì)之一。
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影響封裝芯片特性的溫度有()。
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三光檢查主要是檢查芯片粘貼和引線焊接之后有無(wú)各種廢品。
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刻蝕過(guò)程中聚合物形成的來(lái)源有()。
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硅暴露在空氣中,在室溫下即可產(chǎn)生二氧化硅層,厚度約為()。
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鳥(niǎo)嘴效應(yīng)造成的不良影響有()。
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芯片粘接的工藝過(guò)程包括()。
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