縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。