與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。