檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結合工件形狀和檢測技術綜合考慮。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。