串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。