檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。