底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。