雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。