雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。