與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。