標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

測定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。