穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。