雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。