判斷題同類型探頭,面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片的近場長度相同。
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最新試題
穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū),但小缺陷易漏檢。
題型:判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。
題型:判斷題
斜探頭前部磨損較多時,探頭的K值將變小。
題型:判斷題
檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。
題型:判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題
標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。
題型:判斷題
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
題型:判斷題
測定組合靈敏度時,應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進行測試。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題
檢測面的選擇主要考慮缺陷取向,并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。
題型:判斷題