曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。