利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

脈沖重復頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結果重復性好。