單項(xiàng)選擇題原位雙剪法在測區(qū)內(nèi)選擇測點(diǎn)是,試件兩個(gè)受剪面的水平灰縫厚度應(yīng)為()。
A.4-8mm
B.6-10mm
C.8-12mm
D.10-14mm
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1.單項(xiàng)選擇題原位單剪法數(shù)據(jù)分析時(shí),應(yīng)根據(jù)測試儀表的校驗(yàn)結(jié)果,進(jìn)行荷載換算,并應(yīng)精確到()。
A.1N
B.5N
C.10N
D.15N
2.單項(xiàng)選擇題原位單剪法測量被測灰縫的受剪面尺寸,應(yīng)精確到()。
A.0.2mm
B.0.25mm
C.0.5mm
D.1mm
3.單項(xiàng)選擇題原位單剪法在選定的墻體上,現(xiàn)澆鋼筋混凝土傳力件的混凝土強(qiáng)度等級不應(yīng)低于()。
A.C15
B.C20
C.C25
D.C30
4.單項(xiàng)選擇題原位單剪法所用儀器設(shè)備,在檢測前應(yīng)標(biāo)定荷載傳感器及數(shù)字荷載表,其示值相對誤差不應(yīng)大于()。
A.1%
B.2%
C.3%
D.4%
5.單項(xiàng)選擇題原位單剪法測試部位宜選在窗洞口或其他洞口下()磚范圍內(nèi).
A.2皮
B.3皮
C.4皮
D.5皮
最新試題
改良西門子法的顯著特點(diǎn)不包括()
題型:單項(xiàng)選擇題
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()
題型:單項(xiàng)選擇題
如果雜質(zhì)既有施主的作用又有受主的作用,則這種雜質(zhì)稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
硅片拋光在原理上不可分為()
題型:單項(xiàng)選擇題
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
對于同時(shí)存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導(dǎo)體,在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時(shí),半導(dǎo)體具有()半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。
題型:單項(xiàng)選擇題
可用作硅片的研磨材料是()
題型:單項(xiàng)選擇題
在通常情況下,GaN呈()型結(jié)構(gòu)。
題型:單項(xiàng)選擇題
影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質(zhì)的種類和含量;②雜質(zhì)的分凝效應(yīng);③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應(yīng);④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污;⑤加入雜質(zhì)量;
題型:單項(xiàng)選擇題
只涉及到大約一個(gè)原子大小范圍的晶格缺陷是()。
題型:單項(xiàng)選擇題