給定器件結構和摻雜分布,采用數值方法直接求解器件的基本方程,得到直流(DC.、交流(AC.、瞬態(tài)特性和某些電學參數))。
最新試題
硅暴露在空氣中,在室溫下即可產生二氧化硅層,厚度約為()。
摻雜后退火時間一般在()。
CE定律發(fā)展面臨的問題包括()。
互連工藝中AL的制備可選用()。
化學機械拋光液的主要成分不包括的是哪個?()
下面哪道工序主要是針對晶圓切割之后在顯微鏡下進行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
消除鳥嘴效應的方法有()。
如下哪個選項不是半導體器件制備過程中的主要污染物?()
光刻工藝的設備核心是()。
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。