A、10%~80%
B、20%~80%
C、10%~90%
D、20%~90%
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A、±1%
B、±0.5%
C、±1.5%
D、±2%
A、最長(zhǎng)裂紋
B、最短裂紋
C、裂紋長(zhǎng)度平均值
D、裂紋長(zhǎng)度總和
A、大面1mm
B、條面1mm
C、大面0.5mm
D、條面0.5mm
A、大面.1mm
B、條面.1mm
C、大面.0.5mm
D、條面.0.5mm
A、大面.1mm
B、條面.1mm
C、大面.0.5mm
D、條面.0.5mm
最新試題
光子傳感器是利用某些半導(dǎo)體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。通過測(cè)量電學(xué)性質(zhì)的變化,可以知道紅外輻射的強(qiáng)弱。光子效應(yīng)所制成的紅外探測(cè)器。
下列哪個(gè)不是單晶常用的晶向()
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
可用作硅片的研磨材料是()
對(duì)于大注入下的直接復(fù)合,非平衡載流子的壽命不再是個(gè)常數(shù),它與()。
影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質(zhì)的種類和含量;②雜質(zhì)的分凝效應(yīng);③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應(yīng);④生長(zhǎng)過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污;⑤加入雜質(zhì)量;
在光線作用下,能使物體產(chǎn)生一定方向的電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象稱()
下列哪一個(gè)遷移率的測(cè)量方法適合于低阻材料少子遷移率測(cè)量()
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會(huì)產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
下列選項(xiàng)中,對(duì)從石英到單晶硅的工藝流程是()