填空題閂鎖效應(yīng)(可控硅效應(yīng)),是CMOS電路遇到的()問題。在CMOS電路正常工作時,由于()的突然被激發(fā),器件電流突然(),甚至很快因Al(),使電路失效。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
鳥嘴效應(yīng)造成的不良影響有()。
題型:多項選擇題
如下哪個選項不是半導(dǎo)體器件制備過程中的主要污染物?()
題型:單項選擇題
碳納米管場效應(yīng)晶體管是未來晶體管發(fā)展趨勢之一。
題型:判斷題
CE定律發(fā)展面臨的問題包括()。
題型:多項選擇題
注入損傷與注入離子的以下哪個參數(shù)無關(guān)?()
題型:單項選擇題
下面哪道工序主要是針對晶圓切割之后在顯微鏡下進(jìn)行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
題型:單項選擇題
下面哪個選項不是集成電路工藝用化學(xué)氣體質(zhì)量的指標(biāo)?()
題型:單項選擇題
硅暴露在空氣中,在室溫下即可產(chǎn)生二氧化硅層,厚度約為()。
題型:單項選擇題
三光檢查主要是檢查芯片粘貼和引線焊接之后有無各種廢品。
題型:判斷題
消除鳥嘴效應(yīng)的方法有()。
題型:多項選擇題