與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。