A.為了使主聲束垂直于缺陷,一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點(diǎn)距表面距離小于5mm的缺陷,測量誤差小
D.采用點(diǎn)聚焦探頭可以提高測試精度
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A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.因反射信號很小而導(dǎo)致漏檢
A.遠(yuǎn)場效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到波
A.底面回波降低或消失
B.底面回波正常
C.底面回波變寬
D.底面回波變窄
A.較低頻率的探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。