A.遠(yuǎn)場效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
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A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到波
A.底面回波降低或消失
B.底面回波正常
C.底面回波變寬
D.底面回波變窄
A.較低頻率的探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對
A.為了發(fā)現(xiàn)小缺陷，應(yīng)選用較低的頻率
B.為區(qū)分相鄰缺陷，應(yīng)選用高頻率
C.為減小材質(zhì)衰減，應(yīng)選擇高頻率
D.為檢測近表面缺陷，應(yīng)選擇低頻率
A.縱波斜探頭主要利用小角度縱波進(jìn)行檢測
B.雙晶探頭主要用于根部缺陷的精確測定
C.橫波斜探頭主要用于鋼板夾層缺陷的檢測
D.水浸探頭主要用于大批量焊縫的自動檢測
最新試題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。