A、從水泥與水拌合接觸的瞬間開始計(jì)時(shí)
B、從拌合物搗實(shí)提筒的瞬間開始計(jì)時(shí)
C、從拌合物開始裝料的瞬間開始計(jì)時(shí)
D、從開啟振動(dòng)臺(tái)的同時(shí)開始計(jì)時(shí)
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A、拌合物應(yīng)分三層均勻地裝入筒內(nèi)
B、每層用搗棒插搗12次
C、插搗應(yīng)沿螺旋方向由中心向外進(jìn)行
D、當(dāng)振動(dòng)到透明圓盤的底面被水泥漿布滿的瞬間停止計(jì)時(shí)
A、適用于骨料粒徑不大于40mm的砼拌合物稠度測定
B、適用于骨料粒徑大于40mm的砼拌合物稠度測定
C、適用于坍落度不小于220mm的砼拌合物稠度測定
D、適用于維勃稠度在5~30s之間的砼拌合物稠度測定
A、坍落度測量精確至1mm,坍落擴(kuò)展度測量精確至5mm
B、坍落度測量與坍落擴(kuò)展度測量均精確至1mm
C、坍落度試驗(yàn)結(jié)果表達(dá)修約至1mm,坍落擴(kuò)展度試驗(yàn)結(jié)果表達(dá)修約至5mm
D、坍落度與坍落擴(kuò)展度試驗(yàn)結(jié)果表達(dá)均修約至5mm
A、坍落度大于220mm的砼拌合物,宜用坍落擴(kuò)展度法測定其稠度
B、用鋼尺測量砼擴(kuò)展后最終的最大直徑,作為坍落擴(kuò)展度值
C、用鋼尺測量砼擴(kuò)展后最終的最小直徑,作為坍落擴(kuò)展度值
D、擴(kuò)展后的最大直徑與最小直徑之差超過50mm時(shí),試驗(yàn)無效
A、提筒后,測量筒高與坍落后試體最高點(diǎn)之間的高度差,作為坍落度值
B、提筒后,測量筒高與坍落后試體最低點(diǎn)之間的高度差,作為坍落度值
C、提筒后,測量筒高與坍落后試體最高點(diǎn)和最低點(diǎn)之間的高度差,取其平均值作為坍落度值
D、提筒后,應(yīng)在150s后測量坍落度值
最新試題
改良西門子法的顯著特點(diǎn)不包括()
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
制約鑄造多晶硅材料少子壽命的主要因素不包括()
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()
多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重?fù)焦鑿U料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法
硅片拋光在原理上不可分為()
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs,光照在材料中會(huì)產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
鑄造多晶硅中的氧主要來源不包括()
載流子的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生擴(kuò)散電流,漂移運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生()電流。
對(duì)于同時(shí)存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導(dǎo)體,在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時(shí),半導(dǎo)體具有()半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。