最新試題
封裝工藝中,銀漿固化的溫度為()。
摻雜后退火時間一般在()。
注入損傷與注入離子的以下哪個參數(shù)無關(guān)?()
IC集成度和性能得以不斷提高的理論基礎(chǔ)是()。
硅烷法制備高純硅的步驟不包括哪一項?()
消除鳥嘴效應(yīng)的方法有()。
進(jìn)行光刻工藝前的清洗步驟是()。
常壓的硅外延方法有()。
金屬化中可選用的金屬材料有()。
進(jìn)行溝槽填充常用的金屬材料是()。