A.提高增益(增加靈敏度)并從另一面掃查,以提高信噪比
B.提高頻率并采用大直徑探頭,以減小聲束擴散角來降低部分雜波
C.在深度方向上分區(qū)域調(diào)整靈敏度和評定,以避開近距離雜波的干擾
D.改用透射法雙探頭掃查,以減少聲能損失
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.IN718
B.Ti-6Al-4V
C.4340
D.2024
A.接近于前表面
B.在底面附近
C.在板的中部
D.以上都有可能
A.單晶片直射縱波
B.雙晶片斜射縱波
C.斜入射橫波
D.雙探頭透射法
A.φ2.0-6dB/100 mm
B.φ2.0+6dB/100 mm
C.φ2.0-12dB/100 mm
D.φ2.0+12dB/100 mm
A.193.5%
B.93.5%
C.12.5%
D.1.0%
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。