A.l=S×cosβ
B.l=S×sinβ
C.l=S×tanβ
D.l=S×cotβ
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A.水平距離
B.深度
C.聲程及折射角度
D.聲程
A.一次反射波和始波
B.三次不同的反射波
C.二次反射波和始波
D.二次不同的反射波
A.檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好
B.靈敏度高
C.探頭不容易磨損
D.耦合穩(wěn)定
A.除薄層耦合劑外不再有其他介質(zhì)的情形
B.用一定厚度的液體作為耦合劑的檢測(cè)方法
C.直接接觸的檢測(cè)方法
A.K式檢測(cè)
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
最新試題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。