單項(xiàng)選擇題移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
A.半波高度法
B.端點(diǎn)6dB法
C.端點(diǎn)峰值法
D.絕對(duì)靈敏度法
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1.單項(xiàng)選擇題測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
A.實(shí)際長(zhǎng)度
B.指示長(zhǎng)度
C.測(cè)量長(zhǎng)度
D.相對(duì)長(zhǎng)度
2.單項(xiàng)選擇題（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
3.單項(xiàng)選擇題缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
A.當(dāng)量
B.寬度
C.高度
D.長(zhǎng)度
4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
5.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
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直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題