A.單晶片直射縱波
B.雙晶片斜射縱波
C.斜入射橫波
D.雙探頭透射法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.φ2.0-6dB/100 mm
B.φ2.0+6dB/100 mm
C.φ2.0-12dB/100 mm
D.φ2.0+12dB/100 mm
A.193.5%
B.93.5%
C.12.5%
D.1.0%
A.可以不考慮探傷面的聲能損失補(bǔ)償
B.可以不考慮材質(zhì)衰減的補(bǔ)償
C.可以不使用校正試塊
D.以上都是
A.100mm
B.200mm
C.300mm
D.400mm
A.底面與探傷面不平行
B.工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷
C.工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位
D.以上都有可能
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。