A.延遲符合改變了相關(guān)事件發(fā)生的物理過程
B.延遲符合的順利實現(xiàn)需要對相關(guān)事件的物理過程有深入了解
C.延遲符合功能可以通過電子學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)的
D.相關(guān)事件不同時時，一般可以考慮利用延遲符合技術(shù)
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A.反符合電路利用“或”門來實現(xiàn)
B.反符合中的兩個事件必須是完全無關(guān)的
C.反符合的功能可以利用多個探測器實現(xiàn)
D.反符合與符合在電路設(shè)計、探測器信號連接上都完全不同
A.這兩個或多個事件的發(fā)生是完全相關(guān)的
B.符合分辨時間是為方便電子學(xué)實現(xiàn)而引入的，真符合的事件必定發(fā)生在同一時刻
C.真符合中的兩個事件發(fā)生的時刻可以是近似同時
D.符合電路利用“與”門來實現(xiàn)
A.符合事件指的是同時發(fā)生的兩個或多個事件
B.同時發(fā)生的兩個事件若沒有因果關(guān)系，不能算符合
C.同時指的是同一時刻，而不是一個時間段內(nèi)，所以實際中的符合非常少見
D.符合可以用在粒子甄別上，但是反符合不行
A.坪斜修正可以降低工作電壓偏高對結(jié)果的影響
B.高Z材料會加強反散射效果，所以要用低Z材料做源托
C.β射線在介質(zhì)中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律
D.β射線穿透力強于α粒子，故而不需要考慮源的自吸收問題
A.不能用小立體角法測量
B.需要考慮軔致輻射效應(yīng)
C.需要考慮電子散射問題
D.不需要真空的測量環(huán)境
A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實際中很少見
C.樣品厚度達(dá)到一定值后，再增大其厚度，測量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的
A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點源處理
A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結(jié)果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射
A.點源情況下的源的形狀
B.探測器的種類
C.探測器的大小尺寸
D.入射粒子的種類
A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點源
B.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器距源的距離時才可以將其看做點源
C.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器敏感體積的尺寸時才可以將其看做點源
D.非點源情況下，無法用解析的方法計算探測效率
最新試題
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
吸收和散射對探測器活度測量也有影響，下列說法錯誤的是（）。
下列對中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是（）。
下列關(guān)于同位素源的特點的描述不正確的是（）。
同位素中子源不包括哪一種？（）
中子與物質(zhì)的相互作用不包括以下哪一種？（）
關(guān)于延遲符合，下列描述錯誤的是（）。
測量活度有相對法與絕對法，下列描述錯誤的是（）。
幾何因素對探測器測量活度的影響描述正確的是（）。
關(guān)于加速器中子源，描述錯誤的是（）。