A.這兩個或多個事件的發(fā)生是完全相關的
B.符合分辨時間是為方便電子學實現(xiàn)而引入的，真符合的事件必定發(fā)生在同一時刻
C.真符合中的兩個事件發(fā)生的時刻可以是近似同時
D.符合電路利用“與”門來實現(xiàn)

A.符合事件指的是同時發(fā)生的兩個或多個事件
B.同時發(fā)生的兩個事件若沒有因果關系，不能算符合
C.同時指的是同一時刻，而不是一個時間段內，所以實際中的符合非常少見
D.符合可以用在粒子甄別上，但是反符合不行

A.坪斜修正可以降低工作電壓偏高對結果的影響
B.高Z材料會加強反散射效果，所以要用低Z材料做源托
C.β射線在介質中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律
D.β射線穿透力強于α粒子，故而不需要考慮源的自吸收問題

A.不能用小立體角法測量
B.需要考慮軔致輻射效應
C.需要考慮電子散射問題
D.不需要真空的測量環(huán)境

A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實際中很少見
C.樣品厚度達到一定值后，再增大其厚度，測量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的

A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點源處理

A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射

A.點源情況下的源的形狀
B.探測器的種類
C.探測器的大小尺寸
D.入射粒子的種類

A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點源
B.只有源的直徑遠小于探測器距源的距離時才可以將其看做點源
C.只有源的直徑遠小于探測器敏感體積的尺寸時才可以將其看做點源
D.非點源情況下，無法用解析的方法計算探測效率

A.測量開始的時間
B.探測器本征探測效率
C.環(huán)境本底的計數(shù)率
D.源與探測器幾何位置關系