A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點(diǎn)源處理
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A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結(jié)果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射
A.點(diǎn)源情況下的源的形狀
B.探測器的種類
C.探測器的大小尺寸
D.入射粒子的種類
A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點(diǎn)源
B.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器距源的距離時(shí)才可以將其看做點(diǎn)源
C.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器敏感體積的尺寸時(shí)才可以將其看做點(diǎn)源
D.非點(diǎn)源情況下，無法用解析的方法計(jì)算探測效率
A.測量開始的時(shí)間
B.探測器本征探測效率
C.環(huán)境本底的計(jì)數(shù)率
D.源與探測器幾何位置關(guān)系
A.相對法需要一個(gè)已知活度的源作參照
B.使用相對法測量更加簡便，所以是活度測量的基本方法
C.絕對法復(fù)雜一些，要結(jié)合各種實(shí)際的情況因素進(jìn)行考慮
D.為保證結(jié)果的精確性，使用絕對法測量時(shí)可以多次測量進(jìn)行分析
A.源的活度和能量是常見的輻射探測目標(biāo)
B.測量源的位置與遠(yuǎn)近距離可以用在輻射成像等領(lǐng)域上
C.暫時(shí)無法通過測量的信息分析入射粒子的種類
D.可以測量粒子的飛行時(shí)間
A.HPGe和Ge（Li）用于組成γ譜儀，Ge較高的密度和原子序數(shù)有利于γ射線探測
B.Si（Li）探測器可以作低能量的γ射線和X射線測量
C.Si（Li）探測器可以作β粒子或其他外部入射的電子的探測，因?yàn)樗有驍?shù)低，反散射小
D.Si（Li）探測器也適合測量高能γ射線
A.電流脈沖寬度約為μs量級
B.反符合技術(shù)有助于提高探測器峰康比
C.85立方厘米的高純鍺探測器的相對探測效率約為19%
D.能量線性很好
A.不同原因造成的能量展寬需要平方求和在開方，求總體效應(yīng)
B.載流子統(tǒng)計(jì)漲落、漏電流和噪聲均會造成探測器能量分辨率變差
C.不同原因造成的能量展寬可以直接相加求總體效應(yīng)
D.載流子由于陷阱效應(yīng)帶來的漲落可以通過適當(dāng)提高偏置電壓減小
A.平面型探測器，吸收位置不同但是輸出信號基本相同
B.信號脈沖上升時(shí)間與入射帶電粒子產(chǎn)生電子-空穴對的位置有關(guān)
C.同軸型探測器，吸收位置不同但是輸出信號基本相同
D.輸出電壓脈沖信號是前沿不變的
最新試題
下列關(guān)于反應(yīng)堆中子源的描述錯(cuò)誤的是（）。
下列對于常用的中子探測器的描述不正確的是（）。
下列關(guān)于反符合的描述正確的是（）。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是（）。
測量能量10keV的γ射線，觀察到了在20keV處有一個(gè)明顯的峰，對于這些計(jì)數(shù)的分析正確的是（）。
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測方法？（）
對偶然符合描述正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
測量活度有相對法與絕對法，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于同位素源的特點(diǎn)的描述不正確的是（）。