A.橫向缺陷的檢測采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應(yīng)吻合良好
C.掃差靈敏度在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高9dB
D.在檢測縱向缺陷時，探頭沿螺旋線進(jìn)行掃查
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A.折射角采用棱角反射法測定
B.入射點(diǎn)測定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測定入射角
D.利用曲面對比試塊測定入射點(diǎn)和折射角
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進(jìn)行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網(wǎng)絡(luò)標(biāo)記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標(biāo)準(zhǔn)
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近，界面回波小，容易檢出
B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近，界面回波大，不易檢出
C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大，界面回波大，不易檢出查
D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大，界面回波小，容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。