A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
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A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小，缺陷檢出率提高
D.夾雜類(lèi)缺陷可能會(huì)因產(chǎn)生透射聲波而無(wú)法檢測(cè)到
A.K值減小
B.K值增大
C.對(duì)K值無(wú)影響，對(duì)前沿尺寸影響較大
D.對(duì)入射聲波頻率影響較大
A.未焊透
B.未融合
C.無(wú)缺陷
D.探頭雜波
A.橫波端角反射法適于測(cè)量上表面開(kāi)口缺陷
B.用串列式雙探頭法測(cè)量缺陷下端點(diǎn)時(shí)存在死區(qū)
C.用端點(diǎn)衍射法可以方便地精確測(cè)定缺陷自身高度
D.6dB法測(cè)量精度高，但操作困難
A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對(duì)上端點(diǎn)距表面距離小于5mm的缺陷，測(cè)量誤差小
D.采用點(diǎn)聚焦探頭可以提高測(cè)試精度
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
儀器水平線性影響（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。