A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響,對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大
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A.未焊透
B.未融合
C.無缺陷
D.探頭雜波
A.橫波端角反射法適于測量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測量缺陷下端點(diǎn)時存在死區(qū)
C.用端點(diǎn)衍射法可以方便地精確測定缺陷自身高度
D.6dB法測量精度高,但操作困難
A.為了使主聲束垂直于缺陷,一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點(diǎn)距表面距離小于5mm的缺陷,測量誤差小
D.采用點(diǎn)聚焦探頭可以提高測試精度
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.因反射信號很小而導(dǎo)致漏檢
A.遠(yuǎn)場效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
最新試題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。