許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

在產(chǎn)品抽樣檢驗(yàn)和控制圖分析中經(jīng)常用到（）。

當(dāng)檢驗(yàn)?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，從這批產(chǎn)品中隨機(jī)每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗(yàn)中恰好有k件不合格品的概率服從（）。

一元線性回歸用于研究一個(gè)（）和一個(gè)（）之間的統(tǒng)計(jì)關(guān)系。

時(shí)間序列平滑的目的是（）；平穩(wěn)時(shí)間序列使用（）和（）來預(yù)測時(shí)間序列未來值。

假設(shè)檢驗(yàn)分為（）和（）。

列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)。卡方檢驗(yàn)通常被用來檢驗(yàn)列聯(lián)表（）。

最小二乘法預(yù)測模型包括（）、（）和（）。

點(diǎn)估計(jì)的評價(jià)準(zhǔn)則包括（）、（）和（）等。

總體服從正態(tài)分布，方差未知，小樣本時(shí)采用（）建立總體均值的的置信區(qū)間。