點估計的評價準(zhǔn)則包括（）、（）和（）等。

（）應(yīng)用于一次實驗有多個可能結(jié)果的情況。

獨立重復(fù)試驗中，試驗首次成功所需的試驗次數(shù)服從（）。

加權(quán)指數(shù)按照賦予權(quán)重的方式不同分為（）和（）。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)。卡方檢驗通常被用來檢驗列聯(lián)表（）。

假設(shè)檢驗的理論根據(jù)是（）。

（）用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。

卡方檢驗通常被用在（）、（）。

最小二乘法預(yù)測模型包括（）、（）和（）。