檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。