A.鋸齒形掃查
B.平行掃查
C.斜平行掃查
D.交叉掃查
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.用距波曲線評(píng)定缺陷波幅
B.用測(cè)長(zhǎng)法測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度
C.A和B
D.用當(dāng)量法確定缺陷當(dāng)量
A.調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度
B.確定缺陷波幅
C.測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度
D.A和B
A.聲程法
B.深度法
C.水平法
D.B和C
A.焊縫本身
B.熱影響區(qū)
C.A和B
D.探頭移動(dòng)區(qū)
A.讓工件充分冷卻
B.使焊縫組織穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)
D.以上都對(duì)
最新試題
檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
單探頭法是反射法,雙探頭法都是穿透法。
盲區(qū)與始波寬度是同一概念。
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。
實(shí)際探傷中,為提高掃查速度,減少雜波的干擾,應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向,并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。