脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。