是生產(chǎn)集成電路所用的載體,多指從拉伸長出的高純度硅元素晶柱上切下的圓形薄片。
最新試題
CE定律發(fā)展面臨的問題包括()。
常壓的硅外延方法有()。
注入損傷與注入離子的以下哪個參數(shù)無關?()
下面哪些元素屬于半徑較小的雜質(zhì)原子?()
消除鳥嘴效應的方法有()。
厚膜電阻的成分,一是導體顆粒,二是()。
新的平坦化方法有哪幾個?()
封裝工藝中,銀漿固化的溫度為()。
CMP的設備構成包括()。
進行光刻工藝前的清洗步驟是()。