A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測
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A.橫波斜探頭是由直探頭和透聲斜楔組成的
B.斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波
C.斜楔中的縱波聲速應大于工件中的縱波聲速
D.橫波是在斜楔與工件交界面產(chǎn)生的
A.硬保護膜探頭
B.軟保護膜探頭
C.大尺寸探頭
D.高頻直探頭
A.對晶片振動起阻尼作用
B.吸收晶片背面發(fā)出的雜波
C.對晶片起支撐作用
D.以上都是
A.縱波直探頭用于檢測與檢測面垂直的缺陷
B.橫波斜探頭用于檢測與檢測面傾斜的缺陷
C.表面波探頭用于檢測表面和近表面缺陷
D.蘭姆波探頭用于檢測薄板中的缺陷
A.導電材料
B.磁致伸縮材料
C.壓電材料
D.磁性材料
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。