A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板
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A、粗糙表面回波幅度高
B、無影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用當(dāng)量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷,采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
最新試題
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
掃查方式一般視試件的()而定。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。