A、采用當(dāng)量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷，采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
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A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
最新試題
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
直接射向缺陷的波就是（）
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）