單項選擇題直探頭從端部探測細棒狀工件時,在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生()所致。
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
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1.單項選擇題零件的材料組織或密集的細小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號顯示叫做()。
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
2.單項選擇題焊縫斜角探傷時,如采用直射法,應(yīng)該考慮()等干擾回波的影響。
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
3.單項選擇題在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時,由于存在著(),所以探傷靈敏度會明顯偏低。
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
4.單項選擇題當要求探頭有最大靈敏度時()。
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
5.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
最新試題
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型:單項選擇題
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
題型:單項選擇題
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:單項選擇題
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
題型:單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題
當波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當隨之下降。
題型:單項選擇題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
題型:單項選擇題
在遠場區(qū),當缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
題型:單項選擇題