單項選擇題對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
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1.單項選擇題對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
2.單項選擇題對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
A.長度方向
B.周長方向
C.圓周方向
3.單項選擇題對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
A.周長方向
B.長度方向
C.圓周方向
4.單項選擇題掃查方式一般視試件的()而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
5.單項選擇題當波束不再與缺陷相遇,則回波()
A.理論計算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱
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當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項選擇題
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題