A.通過殘差的分布形態(tài)判斷是否還存在其他潛在的關(guān)鍵X
B.通過殘差分布的隨機(jī)性,判斷所選擇的回歸模型是否合適
C.通過殘差的分布,判斷X對(duì)Y影響是否顯著
D.通過殘差的分布,判斷是否有遠(yuǎn)離模型的異常觀測(cè)值存在
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.相關(guān)分析
B.回歸分析
C.控制圖
D.部分因子試驗(yàn)設(shè)計(jì)
A.雙樣本t檢驗(yàn)
B.雙樣本比率檢驗(yàn)
C.雙樣本非參數(shù)Mann-Whitney檢驗(yàn)
D.列聯(lián)表卡方檢驗(yàn)
A.改進(jìn)前后數(shù)據(jù)都能滿足獨(dú)立性
B.改進(jìn)前后數(shù)據(jù)均值必須相同
C.改進(jìn)前后數(shù)據(jù)都符合正態(tài)分布
D.改進(jìn)前后數(shù)據(jù)合并后服從正態(tài)分布
A.當(dāng)Cp與Cpk較小(如小于0.5)時(shí),則客戶所要求的公差可能較寬松,合格品率高
B.在某些特殊情況下,Cpk可能會(huì)大于Cp
C.對(duì)于供應(yīng)商而言,通過分析供應(yīng)商的Cp與Cpk可以了解各個(gè)供應(yīng)商的質(zhì)量水平,并要求Cp、Cpk大的供應(yīng)商進(jìn)行整改
D.CNC車床加工產(chǎn)品尺寸顯示Cpk值小,但Cp值大,代表尺寸中心偏倚,可以進(jìn)行加工設(shè)備參數(shù)的調(diào)校過程
A.定期校準(zhǔn)可以保證測(cè)量系統(tǒng)的有效性,因此不必專門進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)分析
B.校準(zhǔn)可以消除或減少測(cè)量系統(tǒng)的偏倚(bias)
C.定期進(jìn)行GRR研究一般可以代替定期校準(zhǔn)
D.定期進(jìn)行GRR研究不能代替定期校準(zhǔn)
最新試題
KANO模型對(duì)顧客需求進(jìn)行分類,以下說法正確的有()
以下哪項(xiàng)用于RPN(風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先數(shù))計(jì)算()
在過程FMEA分析中,描述過程要求未得到滿足的是()
快速換型中的內(nèi)部時(shí)間指的是()
作業(yè)分析時(shí)提高動(dòng)作經(jīng)濟(jì)性的方法包括()
因果關(guān)系矩陣不用于()
DMAIC的界定階段回答的問題是()
不良質(zhì)量成本與西格瑪水平的關(guān)系是()
下列不屬于DMAIC中C階段主要任務(wù)的是()
要比較兩臺(tái)設(shè)備的壽命,不能用來展示壽命分布中心和波動(dòng)的圖形是()