單項(xiàng)選擇題斜探頭前沿長度和K值測定的幾種發(fā)放中，哪種方法精度最高：（）、
A.半圓試法和橫孔法
B.雙孔法
C.直角邊法
D.不一定，須視具體情況而定
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1.單項(xiàng)選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)（）
A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度
2.單項(xiàng)選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（）
A.探測范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場長度小
D.雜波少
3.單項(xiàng)選擇題以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（）
A.檢測精度高，定位定量準(zhǔn)
B.頻帶寬，脈沖窄
C.可記錄存儲(chǔ)信號(hào)
D.儀器有計(jì)算和自檢功能
4.單項(xiàng)選擇題探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（）
A.透聲性能好
B.材質(zhì)衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
5.單項(xiàng)選擇題采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（）
A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題