單項(xiàng)選擇題探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（）
A.透聲性能好
B.材質(zhì)衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
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1.單項(xiàng)選擇題采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（）
A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2
2.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測表層缺陷
D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)
3.單項(xiàng)選擇題下列壓電晶體中哪一種做高頻探頭較為適宜（）
A.鈦酸鋇（CL=5470m/s）
B.鈦酸鋰（CL=7400m/s）
C.PZT（CL=4400m/s）
D.鈦酸鉛（CL=4200m/s）
4.單項(xiàng)選擇題下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（）
A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇
5.單項(xiàng)選擇題下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（）
A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動(dòng)，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題