單項(xiàng)選擇題Ф14mm,2.5MHZ直探頭在鋼中近場區(qū)為()

A、27mm
B、21mm
C、38mm
D、以上都不對(duì)


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是()

A、5.6°
B、3.5°
C、6.8°
D、24.6°

2.單項(xiàng)選擇題晶片直徑D=20mm的直探頭,在鋼中測得其零輻射角為10°,該探頭探測頻率約為()

A、2.5MHZ
B、5MHZ
C、4MHZ
D、2MHZ

3.單項(xiàng)選擇題波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨()

A.頻率增加,晶片直徑減小而減小
B.頻率或晶片直徑減小而增大
C.頻率或晶片直徑減小而減小
D.頻率增加,晶片直徑減小而增大

4.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)材料衰減的敘述、哪句話是錯(cuò)誤的:()

A、橫波衰減比縱波嚴(yán)重
B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大
C、當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對(duì)探傷有顯著影響
D、提高增益可完全克服衰減對(duì)探傷的影響

5.單項(xiàng)選擇題與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是()

A、擴(kuò)散衰減
B、散射衰減
C、吸收衰減
D、以上都是

最新試題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:單項(xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項(xiàng)選擇題

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。

題型:單項(xiàng)選擇題